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大家都知道高低溫濕熱試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)是由很多的管道來連接各個(gè)部件,而如果設(shè)備的銅管焊接不好的話,很容易在設(shè)備使用過程中出現(xiàn)冷媒泄露的問題,壓縮機(jī)銅管焊接工藝細(xì)節(jié)很重要。那么,高低溫濕熱試驗(yàn)箱制冷壓縮機(jī)管道是如何焊接的呢?①一樣管經(jīng)的銅管焊接,同管經(jīng)的銅管焊接時(shí).要先把期間的一個(gè)支管...
使用注意事項(xiàng):1、于操作當(dāng)中,除非有必要,請(qǐng)不要打開箱門,否則可能會(huì)導(dǎo)致不良后果。2、為提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù),請(qǐng)定期檢查水壓控制器以及循環(huán)水箱水位。3、正確地裝置濕球的測(cè)試布,方能保證量取正確的相對(duì)濕度。4、請(qǐng)?jiān)敿?xì)閱讀本說明書,方可操作本機(jī)。安裝場(chǎng)所1、安裝位置應(yīng)考慮奔及的散熱及平常容易檢查維修的位置2、奔及于墻壁及其它任何機(jī)器之間的距離少應(yīng)有600mm以上距離。3、設(shè)置于平坦無振動(dòng)之地面。4、選擇通風(fēng)良好,且勿受陽光直接照射。5、本機(jī)應(yīng)遠(yuǎn)離熱源及易燃易爆物品。...
?恒溫恒濕試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)在很大程度上影響工作中間溫度均勻,由于結(jié)構(gòu)難于*對(duì)稱,從而對(duì)溫度均勻造成不利影響。常用的低溫試驗(yàn)箱或恒溫恒濕試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)。1)大門在前,空調(diào)室在箱后部,上送風(fēng)下回風(fēng)。顯然這種結(jié)構(gòu)左右對(duì)稱性好,可較易達(dá)到左、右溫度均勻,但結(jié)構(gòu)上、下不對(duì)稱,前后也*不同,對(duì)工作空間溫度產(chǎn)生了不均勻影響。盡管如此,這種單風(fēng)道結(jié)構(gòu)如設(shè)計(jì)處理得當(dāng),實(shí)踐證明工作室從0.l~300m3,之間都可使用,其溫度偏差都可滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。2)由于箱壁六面?zhèn)鳠嵯禂?shù)不等,有的有穿線孔等局部傳熱.使...
高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:廣泛適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則GBT29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則型號(hào):JY-PCT-30...
恒溫老化房,也叫高溫老化房和老化房,是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品,仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。恒溫老化房使用流程各個(gè)流程的注意事項(xiàng)。1.電控設(shè)計(jì)參照各種規(guī)范,使電控設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化。2.控制系統(tǒng)集成老化功能設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)功能控制電柜,老化所需時(shí)間、溫度、各類操作開關(guān)可在一個(gè)控制電柜上操作;電柜面板設(shè)計(jì)美觀、操作簡(jiǎn)單。3.老化過程可全自動(dòng)控制,具有部分異常自處理功能,讓操作自動(dòng)化、簡(jiǎn)單化。4.具有多重...
PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)適用于航天、磁鐵行業(yè)、制藥線路板、多層線路板、汽車部件、電子零配件、半導(dǎo)體、塑膠、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法...
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